一種電流孔徑垂直電子晶體管外延結(jié)構(gòu)及其制備方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911260778.5 申請日 -
公開(公告)號 CN110797409A 公開(公告)日 2020-02-14
申請公布號 CN110797409A 申請公布日 2020-02-14
分類號 H01L29/78;H01L21/335;H01L29/06 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 左萬勝;鈕應(yīng)喜;程海英;鐘敏;郗修臻;張曉洪;劉錦錦;劉洋;史田超 申請(專利權(quán))人 啟迪微電子(蕪湖)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蕪湖安匯知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 啟迪新材料(蕪湖)有限公司;蕪湖啟迪半導(dǎo)體有限公司
地址 241000 安徽省蕪湖市弋江區(qū)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)服務(wù)外包產(chǎn)業(yè)園3號樓18層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電流孔徑垂直電子晶體管外延結(jié)構(gòu)及其制備方法,所述電流孔徑垂直電子晶體管外延結(jié)構(gòu)由下至上依次包括:GaN自支撐襯底或硅基襯底、低摻雜n型GaN漂移層A、多周期GaN/AlxGa1?xN隧穿層,其中0xGa1?xN隧穿層,通過調(diào)控多周期的周期數(shù)、多周期內(nèi)的GaN與AlXGa1?XN的厚度及Al組分,提高器件的耐壓特性,通過隧穿效應(yīng)顯著緩解器件擊穿電壓與導(dǎo)通電阻之間的矛盾,改善器件的穩(wěn)定性和可靠性。