全波段光譜儀及其工作方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111388147.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114112033A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114112033A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G01J3/02（2006.01）I;G01J3/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳晨;胡建坤;李佩聰;唐小燕;李銳;趙永乾 申請（專利權(quán)）人 杭州譜育科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 311305浙江省杭州市臨安區(qū)青山湖街道科技大道2466-1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了全波段光譜儀及其工作方法，所述全波段光譜儀包括殼體、準(zhǔn)直鏡、光柵、成像鏡和陣列式探測器，所述準(zhǔn)直鏡、光柵和成像鏡設(shè)置在所述殼體內(nèi)部，測量光依次經(jīng)過所述準(zhǔn)直鏡、光柵和成像鏡后，成像在所述陣列式探測器上；還包括：光纖頭固定在光纖座上，所述光纖座設(shè)置在所述殼體上；第一調(diào)節(jié)單元用于在沿著所述光纖頭的中心軸線方向調(diào)節(jié)所述光纖座和所述準(zhǔn)直鏡間的距離；第二調(diào)節(jié)單元用于調(diào)節(jié)所述成像鏡的空間位置；延伸臂設(shè)置在所述殼體內(nèi)壁，所述殼體內(nèi)的所述測量光的部分穿過二個(gè)延伸臂之間的縫隙，部分被延伸臂阻擋；消光單元設(shè)置在所述陣列式探測器的側(cè)部。本發(fā)明具有調(diào)節(jié)簡單、去除雜散光等優(yōu)點(diǎn)。