飛行時(shí)間質(zhì)量分析器

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111198558.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114171367A 公開(公告)日 2022-03-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN114171367A 申請(qǐng)公布日 2022-03-11
分類號(hào) H01J49/02(2006.01)I;H01J49/40(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 于丙文;俞曉峰;徐岳;吳智威;李銳;韓雙來 申請(qǐng)(專利權(quán))人 杭州譜育科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 311305浙江省杭州市臨安區(qū)青山湖街道科技大道2466-1號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了飛行時(shí)間質(zhì)量分析器,所述飛行時(shí)間質(zhì)量分析器包括推斥極、無場(chǎng)飛行區(qū)和檢測(cè)器,所述無場(chǎng)飛行區(qū)包括第一入射柵網(wǎng);所述飛行時(shí)間質(zhì)量分析器還包括:牽引電極和所述第一入射柵網(wǎng)間形成第一離子加速區(qū);第一柵網(wǎng)和第二柵網(wǎng)間電勢(shì)差為零;所述推斥極和第一柵網(wǎng)間,以及第二柵網(wǎng)和牽引電極間形成第二離子加速區(qū);離子依次穿過第一柵網(wǎng)、第二柵網(wǎng)、牽引電極、第一入射柵網(wǎng)和無場(chǎng)飛行區(qū),被所述檢測(cè)器接收。本發(fā)明具有分辨率高等優(yōu)點(diǎn)。