平板式光纖微彎測(cè)試裝置及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111105162.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN113804407A 公開(公告)日 2021-12-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN113804407A 申請(qǐng)公布日 2021-12-17
分類號(hào) G01M11/00(2006.01)I;G01N3/02(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I;G01N3/14(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 石明;曹劍翔 申請(qǐng)(專利權(quán))人 江蘇盈科通信科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州格策知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 徐靜
地址 213000江蘇省常州市金壇區(qū)南二環(huán)東路1798-1號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種平板式光纖微彎測(cè)試裝置及方法,裝置包括平行的固定鋼板和上壓鋼板,固定鋼板上表面設(shè)有選定粗糙度的粗糙材料,受試光纖均勻分布在固定鋼板表面,上壓鋼板上設(shè)有配重砝碼;測(cè)試步驟為:將受試光纖以正弦曲線方式擺在固定鋼板粗糙材料表面,上壓鋼板壓在固定鋼板表面,兩鋼板閉合,增加配重砝碼,調(diào)節(jié)施加壓力,受試光纖在施加壓力作用下產(chǎn)生附加衰減,測(cè)試光纖施加壓力前后衰減增加值來計(jì)算光纖微彎敏感性。通過上述方式,本發(fā)明采用平板法進(jìn)行測(cè)試,能夠有效規(guī)避圓筒法測(cè)試時(shí)光纖宏彎損耗產(chǎn)生的影響,精準(zhǔn)定性光纖微彎時(shí)附加衰減變化,判斷光纖是否擁有良好微彎不敏感性能,對(duì)評(píng)估光纖微彎敏感性提供有效依據(jù)。