一種用于測試電子元件的UV紫外線老化試驗箱

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023140193.0 申請日 -
公開（公告）號 CN214011018U 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN214011018U 申請公布日 2021-08-20
分類號 G01N17/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 喬森 申請（專利權）人 森諾檢測認證技術服務（深圳）有限公司
代理機構 南昌逸辰知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 劉林艷
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道浪口工業(yè)園81號4層401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種用于測試電子元件的UV紫外線老化試驗箱，屬于醫(yī)療器械技術領域，以解決現(xiàn)有的老化試驗箱在對電子元件進行測試時，盛放電子元件的托盤一般放置在老化試驗箱的靠內(nèi)側(cè)，在檢測完成后，往外拿取裝有電子元件的托盤不方便的問題，包括試驗箱外殼；所述試驗箱外殼轉(zhuǎn)動連接有一組試驗箱門；所述試驗箱外殼內(nèi)側(cè)后方活動連接有一組推板；所述推板下方滑動連接有兩組傳動滑塊；所述傳動滑塊滑動連接在試驗箱外殼內(nèi)部；所述試驗箱外殼內(nèi)部轉(zhuǎn)動連接有一組傳動軸；所述試驗箱外殼內(nèi)部轉(zhuǎn)動連接有一組連接軸，本實用新型通過轉(zhuǎn)動試驗箱門，實現(xiàn)對托盤的推出，方便操作人員拿取，在推出托盤后，通過復位彈簧，實現(xiàn)推板的復位。