一種用于測試電子元件的恒溫恒濕試驗裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023101061.7 申請日 -
公開（公告）號 CN214011017U 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN214011017U 申請公布日 2021-08-20
分類號 G01N17/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 喬森 申請（專利權）人 森諾檢測認證技術服務（深圳）有限公司
代理機構 南昌逸辰知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 劉林艷
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道浪口工業(yè)園81號4層401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種用于測試電子元件的恒溫恒濕試驗裝置，包括箱體結構；所述箱體結構上鉸接安裝有護板結構；所述箱體結構內部開設有內箱結構；所述箱體結構頂部卡接安裝有四組干燥結構；護板結構還包括有門板、觀測窗，門板上開設有四組觀測窗，每組觀測窗均采用加厚的鋼化玻璃安裝，門板內側面的靠邊沿位置設置有密封條，鉸接安裝的門板為檢測設備的主要防護結構，而現(xiàn)有的檢測設備的門窗上只設置有一組觀測窗，單一的觀測窗無法良好的對內部進行觀測，將門板上開設四組觀測窗，使得門板在關閉之后具有更加良好的觀測目的，且觀測窗采用加厚的鋼化玻璃，使得四組觀測窗具有門板應有的強度。