一種用于測(cè)試電子元件的鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202023101582.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN214584777U | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-11-02 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN214584777U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-02 |
分類號(hào) | G01N17/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 喬森 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 森諾檢測(cè)認(rèn)證技術(shù)服務(wù)(深圳)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南昌逸辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 劉林艷 |
地址 | 518000廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道浪口工業(yè)園81號(hào)4層401室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供一種用于測(cè)試電子元件的鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱,屬于檢測(cè)試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,以解決現(xiàn)有的鹽霧試驗(yàn)一般是通過(guò)鹽霧試驗(yàn)箱進(jìn)行完成,在鹽霧實(shí)驗(yàn)箱進(jìn)行交變鹽霧試驗(yàn)時(shí),需要間歇性噴灑鹽霧和增加溫濕度,噴灑鹽霧和增加溫濕度速度時(shí)間較長(zhǎng),試驗(yàn)效率較低的問(wèn)題,包括試驗(yàn)箱主體;所述試驗(yàn)箱主體的前端下部鉸鏈連接有一組翻轉(zhuǎn)箱框;所述翻轉(zhuǎn)箱框的右端面固定連接有一組轉(zhuǎn)換驅(qū)動(dòng)件。本實(shí)用新型通過(guò)采用右試驗(yàn)腔和左試驗(yàn)腔,通過(guò)電子元器件交替進(jìn)入右試驗(yàn)腔和左試驗(yàn)腔,實(shí)現(xiàn)電子元器件的交替試驗(yàn),減少了鹽霧噴灑和溫濕度提升時(shí)間,試驗(yàn)效率更高,同時(shí)在試驗(yàn)中可以實(shí)現(xiàn)電子元器件的旋轉(zhuǎn),保證試驗(yàn)氣體能夠快速與電子元器件相接觸,提高試驗(yàn)效率。 |
