一種用于測試電子元件的鹽霧腐蝕實驗箱

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023101582.2 申請日 -
公開（公告）號 CN214584777U 公開（公告）日 2021-11-02
申請公布號 CN214584777U 申請公布日 2021-11-02
分類號 G01N17/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 喬森 申請（專利權(quán)）人 森諾檢測認(rèn)證技術(shù)服務(wù)（深圳）有限公司
代理機構(gòu) 南昌逸辰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉林艷
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道浪口工業(yè)園81號4層401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種用于測試電子元件的鹽霧腐蝕實驗箱，屬于檢測試驗技術(shù)領(lǐng)域，以解決現(xiàn)有的鹽霧試驗一般是通過鹽霧試驗箱進(jìn)行完成，在鹽霧實驗箱進(jìn)行交變鹽霧試驗時，需要間歇性噴灑鹽霧和增加溫濕度，噴灑鹽霧和增加溫濕度速度時間較長，試驗效率較低的問題，包括試驗箱主體；所述試驗箱主體的前端下部鉸鏈連接有一組翻轉(zhuǎn)箱框；所述翻轉(zhuǎn)箱框的右端面固定連接有一組轉(zhuǎn)換驅(qū)動件。本實用新型通過采用右試驗腔和左試驗腔，通過電子元器件交替進(jìn)入右試驗腔和左試驗腔，實現(xiàn)電子元器件的交替試驗，減少了鹽霧噴灑和溫濕度提升時間，試驗效率更高，同時在試驗中可以實現(xiàn)電子元器件的旋轉(zhuǎn)，保證試驗氣體能夠快速與電子元器件相接觸，提高試驗效率。