用于高精度溫敏元件的調(diào)阻測試裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201922456468.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN212159935U | 公開(公告)日 | 2020-12-15 |
申請公布號 | CN212159935U | 申請公布日 | 2020-12-15 |
分類號 | G01R27/02(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 胡軼 | 申請(專利權(quán))人 | 重慶斯太寶科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 重慶強大凱創(chuàng)專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 陳家輝 |
地址 | 400700重慶市北碚區(qū)蔡家崗鎮(zhèn)嘉德大道99號3幢1號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型涉及電子元件制造技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種用于高精度溫敏元件的調(diào)阻測試裝置,包括測阻電橋,所述測阻電橋包括依次連接的標(biāo)準(zhǔn)電阻、第一精密電阻、第二精密電阻,所述標(biāo)準(zhǔn)電阻和第二精密電阻之間設(shè)有連接位,所述連接位用于連接被測元件,使被測元件與標(biāo)準(zhǔn)電阻、第一精密電阻、第二精密電阻串聯(lián),所述標(biāo)準(zhǔn)電阻與被測元件之間設(shè)有第一測試端,所述第一精密電阻與第二精密電阻之間設(shè)有第二測試端,所述第一測試端與第二測試端之間連接有檢測模塊。采用本方案能夠?qū)崟r監(jiān)控調(diào)阻,減少被測元件的加工時長,同時能夠消除溫度對被測元件測阻影響。?? |
