減小載具對(duì)晶圓表面清洗影響的方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111328964.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114093752A | 公開(公告)日 | 2022-02-25 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114093752A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-25 |
分類號(hào) | H01L21/02(2006.01)I;H01L21/673(2006.01)I;B08B13/00(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 史蒂文·賀·汪;顧華平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 新陽硅密(上海)半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海弼興律師事務(wù)所 | 代理人 | 何橋云 |
地址 | 201616上海市松江區(qū)思賢路3600號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種減小載具對(duì)晶圓表面清洗影響的方法,載具的凹槽豎直設(shè)置且開口朝上,凹槽內(nèi)放置有晶圓,方法包括步驟:S1、將載具正向旋轉(zhuǎn),以使設(shè)置在載具上的凹槽的開口延伸方向與水平面的夾角的度數(shù)為大于等于0°且小于10°;S2、將載具反向旋轉(zhuǎn),以使凹槽的開口延伸方向與水平面的夾角的度數(shù)為大于90°且小于等于135°,晶圓的上下兩端分別抵接于凹槽相對(duì)的兩側(cè)壁。該方法首先正向旋轉(zhuǎn)載具,使凹槽的開口延伸方向與水平面的夾角的度數(shù)為大于等于0°且小于10°中的任意一角度值,使得晶圓一表面與載具的內(nèi)壁貼合,然后再反向旋轉(zhuǎn)載具,使得晶圓的上下兩端分別抵接在凹槽相對(duì)的兩側(cè)壁上,減少了載具對(duì)晶圓表面的遮擋,提高晶圓的清洗效果。 |
