芯片測(cè)試電路及方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110179071.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112986797A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112986797A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-18 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/28 | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李可;李卓研;陳耀璋;朱力強(qiáng) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 昂寶電子（上海）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 田琳婧 |
| 地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)華佗路168號(hào)商業(yè)中心3號(hào)樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 提供了一種芯片測(cè)試電路和方法。該芯片測(cè)試電路包括：模式判斷模塊，被配置為基于芯片的特定端口處的端口信號(hào)判斷是否使芯片進(jìn)入特定測(cè)試模式，并基于判斷結(jié)果生成用于使能芯片進(jìn)入特定測(cè)試模式或正常工作模式的模式使能信號(hào)；模式鎖存模塊，被配置為通過(guò)對(duì)模式使能信號(hào)進(jìn)行采樣和鎖存生成模式鎖存信號(hào)，以基于模式鎖存信號(hào)控制芯片進(jìn)入并在下電前一直處于特定測(cè)試模式或正常工作模式。這里，由于利用模式鎖存信號(hào)控制芯片進(jìn)入特定測(cè)試模式或正常工作模式后在下電前一直處于特定測(cè)試模式或正常工作模式，可以避免芯片在處于正常工作模式時(shí)誤進(jìn)入特定測(cè)試模式導(dǎo)致的芯片工作異常甚至炸機(jī)。 |
