芯片測試電路及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110179071.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112986797A 公開（公告）日 2021-06-18
申請公布號 CN112986797A 申請公布日 2021-06-18
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李可;李卓研;陳耀璋;朱力強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 昂寶電子（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 田琳婧
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)華佗路168號商業(yè)中心3號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 提供了一種芯片測試電路和方法。該芯片測試電路包括：模式判斷模塊，被配置為基于芯片的特定端口處的端口信號判斷是否使芯片進(jìn)入特定測試模式，并基于判斷結(jié)果生成用于使能芯片進(jìn)入特定測試模式或正常工作模式的模式使能信號；模式鎖存模塊，被配置為通過對模式使能信號進(jìn)行采樣和鎖存生成模式鎖存信號，以基于模式鎖存信號控制芯片進(jìn)入并在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式。這里，由于利用模式鎖存信號控制芯片進(jìn)入特定測試模式或正常工作模式后在下電前一直處于特定測試模式或正常工作模式，可以避免芯片在處于正常工作模式時(shí)誤進(jìn)入特定測試模式導(dǎo)致的芯片工作異常甚至炸機(jī)。