一種基于曲線拐點(diǎn)比對的設(shè)備檢測方法及相關(guān)裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010704985.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111811567B | 公開(公告)日 | 2022-03-01 |
申請公布號 | CN111811567B | 申請公布日 | 2022-03-01 |
分類號 | G01D21/00(2006.01)I;G01D9/00(2006.01)I;G06K9/62(2022.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 衛(wèi)婕;黃毅;呂明 | 申請(專利權(quán))人 | 北京中科五極數(shù)據(jù)科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 張欣欣 |
地址 | 100000北京市海淀區(qū)馬連洼北路8號C座五層506-A006 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請?zhí)峁┮环N基于曲線拐點(diǎn)比對的設(shè)備檢測方法及相關(guān)裝置,涉及工業(yè)自動控制的數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域。該方法包括:將待檢測設(shè)備的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)曲線與歷史數(shù)據(jù)曲線進(jìn)行匹配,獲取分段拐點(diǎn)組;根據(jù)分段拐點(diǎn)組將實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)曲線和歷史數(shù)據(jù)曲線切分為多個曲線段組;按照序列標(biāo)識,依次獲取每個曲線段組的曲線比對參數(shù);當(dāng)所有曲線比對參數(shù)與預(yù)設(shè)比對閾值匹配時(shí),確定待檢測設(shè)備處于第一工況。獲取實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)曲線和歷史數(shù)據(jù)曲線的分段拐點(diǎn)組,并自動對兩條曲線進(jìn)行分段比對,以確定待檢測設(shè)備的當(dāng)前運(yùn)行狀況為第一工況,能具體分析兩條曲線出現(xiàn)差異的原因,提高設(shè)備檢測的準(zhǔn)確性。 |
