一種基于深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)的瑕疵點(diǎn)識別方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110947457.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113673594A 公開（公告）日 2021-11-19
申請公布號 CN113673594A 申請公布日 2021-11-19
分類號 G06K9/62（2006.01）I;G06K9/46（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王慧燕;姜?dú)g 申請（專利權(quán)）人 浙江小芃科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州奧創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王佳健
地址 310018浙江省杭州市下沙高教園區(qū)學(xué)正街18號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)的瑕疵點(diǎn)識別方法。本發(fā)明首先將瑕疵的圖片通過Resnet?50特征提取網(wǎng)絡(luò)，提取瑕疵的特征，然后通過改進(jìn)的transformer網(wǎng)絡(luò)對瑕疵進(jìn)行檢測，識別出瑕疵。本發(fā)明通過對DETR網(wǎng)絡(luò)的transformer網(wǎng)絡(luò)模塊進(jìn)行改進(jìn)，能夠提升速度的同時(shí)，將瑕疵能夠更精確地檢測出來。