一種集成電路測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911294300.4 申請日 -
公開（公告）號 CN110927560A 公開（公告）日 2020-03-27
申請公布號 CN110927560A 申請公布日 2020-03-27
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周國成 申請（專利權(quán)）人 無錫矽鵬半導(dǎo)體檢測有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無錫市匯誠永信專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 朱曉林
地址 214000 江蘇省無錫市錫山經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)芙蓉中三路99號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路測試領(lǐng)域,公開了一種集成電路測試方法，在進(jìn)行跳變測試時(shí)，先確定集成電路輸出管腳出現(xiàn)狀態(tài)跳變時(shí)信號源輸出信號值的區(qū)間，即大步距調(diào)節(jié)信號源輸入集成電路的信號值，直至集成電路的輸出管腳出現(xiàn)狀態(tài)跳變，然后將信號源的輸出信號值后退兩個(gè)大步距，接著小步距調(diào)節(jié)信號源的輸出信號值，直至集成電路的輸出管腳再次出現(xiàn)跳變，此時(shí)信號源的輸出信號值便是測量結(jié)果。本發(fā)明通過先確定集成電路的輸出管腳出現(xiàn)狀態(tài)跳變時(shí)信號源輸出信號值的區(qū)間，然后在區(qū)間內(nèi)小步距調(diào)節(jié)信號源的輸出信號，進(jìn)而在保證測試精確度的同時(shí)減少測試時(shí)間，提高測試效率。