X射線熒光光譜法測(cè)定白剛玉中雜質(zhì)組分含量的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110737326.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113447330A 公開（公告）日 2021-09-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN113447330A 申請(qǐng)公布日 2021-09-28
分類號(hào) G01N1/28（2006.01）I;G01N23/223（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張蕾;陳寧娜;許超 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中冶武漢冶金建筑研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 代理人 李艷景
地址 430081湖北省武漢市青山區(qū)工業(yè)大道3號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種X射線熒光光譜法測(cè)定白剛玉中雜質(zhì)組分含量的方法，步驟包括：樣品磨制；樣品壓制；用PET膜緊密包裹壓片；設(shè)置各元素最佳測(cè)定條件；以白剛玉、棕剛玉和氧化鋁標(biāo)準(zhǔn)樣品按照不同的比例，配制成各檢測(cè)元素含量從低到高具有一定梯度的白剛玉標(biāo)準(zhǔn)樣品，對(duì)其擬合校準(zhǔn)曲線，建立了X射線熒光光譜法同時(shí)測(cè)定白剛玉中SiO2、CaO、Fe2O3、K2O、Na2O、TiO2、P2O3含量的快速分析方法。該方法通過(guò)人為配置白剛玉標(biāo)準(zhǔn)樣品，使檢測(cè)范圍更接近白剛玉雜質(zhì)含量范圍；同時(shí)通過(guò)PET膜包裹壓片樣品，以減少粉塵污染，保護(hù)儀器；該方法準(zhǔn)確度高，縮短了檢測(cè)時(shí)間，節(jié)約了成本，延長(zhǎng)了儀器使用壽命，適合批量樣品分析。