一種基于高光譜的葉片無損檢測裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011089811.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112129715A | 公開（公告）日 | 2020-12-25 |
| 申請公布號 | CN112129715A | 申請公布日 | 2020-12-25 |
| 分類號 | G01N21/25(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 袁曉輝;李東野 | 申請（專利權）人 | 嘉興古奧基因科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京風雅頌專利代理有限公司 | 代理人 | 馬驍 |
| 地址 | 314112浙江省嘉興市嘉善縣惠民街道惠民大道383號2號樓2層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于高光譜的葉片無損檢測裝置，包括光源、物鏡或者透鏡、位移臺、濾波片，聚焦透鏡、成像光譜儀,待測樣品放置在所述的位移臺上，光源發(fā)出的光依次通過物鏡或者透鏡、位移臺、待測樣品,待測樣品輻射的光通過濾波片，聚焦透鏡進入成像光譜儀中。本發(fā)明利用光源照明樣品，利用位移平臺實現(xiàn)對樣品的掃描，成像光譜儀采集樣品輻射的光譜信號，可以快速地得到樣品的光譜和空間位置信息。本發(fā)明采用了主動照明的方式，系統(tǒng)的信噪比較高，可以用來實現(xiàn)物體的定量檢測。?? |
