延時測量電路、AC校準裝置及IC測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111030951.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113466670B 公開（公告）日 2022-01-18
申請公布號 CN113466670B 申請公布日 2022-01-18
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏津;胡雪原;徐潤生 申請（專利權(quán)）人 紳克半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
代理機構(gòu) 蘇州市中南偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王廣浩
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)大同路20號三區(qū)2號A5廠房1樓101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種延時測量電路、AC校準裝置及IC測量裝置，延時測量電路包括同步信號源，用以分多次且每次產(chǎn)生一個不同頻率的連續(xù)方波信號；被測通道，用以與同步信號源連接并分多次接收連續(xù)方波信號；參考電路，用以與同步信號源連接并分多次接收連續(xù)方波信號；鑒相器，用以與被測通道和參考電路連接并分多次接收被測信號和參考信號，且每次產(chǎn)生一個輸出電壓；數(shù)據(jù)處理模塊，用以根據(jù)輸出電壓隨連續(xù)方波信號的頻率變化所呈現(xiàn)的三角波函數(shù)的周期值計算被測信號相對參考信號的延時，并根據(jù)不同被測通道中被測信號相對參考信號的延時得到不同被測通道之間的延時。本發(fā)明延時測量電路可大幅提升延時測量的精度。