芯片測(cè)試電路、測(cè)試方法及測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111115750.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113567841A 公開(kāi)（公告）日 2021-10-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN113567841A 申請(qǐng)公布日 2021-10-29
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 魏津;胡雪原;徐潤(rùn)生 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 紳克半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州市中南偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王廣浩
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)大同路20號(hào)三區(qū)2號(hào)A5廠房1樓101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種芯片測(cè)試電路，包括：第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器，用于獲取第一參考電壓，并通過(guò)數(shù)碼值調(diào)節(jié)第一輸出電壓；第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器，用于獲取第二參考電壓，并通過(guò)數(shù)碼值調(diào)節(jié)第二輸出電壓；電壓合成模塊，用于將第一輸出電壓和第二輸出電壓相加或相減，并輸出測(cè)試電壓；計(jì)算模塊，用于根據(jù)目標(biāo)測(cè)試電壓計(jì)算目標(biāo)數(shù)碼值，并根據(jù)目標(biāo)數(shù)碼值計(jì)算對(duì)應(yīng)的第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器的數(shù)碼值和第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器的數(shù)碼值，使芯片測(cè)試電路的等效數(shù)碼值與目標(biāo)數(shù)碼值相匹配；配置模塊，用于以計(jì)算好的第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器的數(shù)碼值和第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器的數(shù)碼值配置第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器和第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器。本發(fā)明可利用低分辨率數(shù)模轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)高分辨率。