芯片測試方法、測試機及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111078131.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113514758B 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN113514758B 申請公布日 2022-02-22
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R19/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏津;徐潤生;鄢書丹 申請（專利權(quán)）人 紳克半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
代理機構(gòu) 蘇州市中南偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王廣浩
地址 215100江蘇省蘇州市高新區(qū)大同路20號三區(qū)2號A5廠房1樓101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種芯片測試方法，該芯片測試方法用于測量被測芯片在低功耗模式下的靜態(tài)工作電流，測試機包括用于給被測芯片供電的可編程電源，和連接在被測芯片的各個被測管腳上的多個測試通道，該方法包括以下步驟：將被測芯片配置為低功耗模式；配置各個被測管腳對應(yīng)的各個被測通道為高阻模式；獲取此時各個被測管腳在高阻模式下的第一被測電壓；于各測試通道中生成一后臺驅(qū)動電壓，后臺驅(qū)動電壓用于抵消對應(yīng)的第一被測電壓；以后臺驅(qū)動電壓配置對應(yīng)的各測試通道；以配置好的各測試通道對被測芯片進行測量，讀取此時被測芯片的靜態(tài)工作電流。本發(fā)明可顯著降低各個測試通道的漏電流，進而提高芯片測量的精度。