阿達瑪變換近紅外光譜儀檢測光的方法及光譜儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810239143.2 申請日 -
公開（公告）號 CN101419164B 公開（公告）日 2010-12-22
申請公布號 CN101419164B 申請公布日 2010-12-22
分類號 G01N21/45(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張新民;曾立波;馮新瀘 申請（專利權）人 譜創(chuàng)（上海）儀器有限公司
代理機構 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 張濤
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地信息路2號C座8層808室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于光譜分析技術。為了降低阿達瑪變換近紅外光譜儀的體積，本發(fā)明提供了一種阿達瑪變換近紅外光譜儀檢測光的方法，包括透過樣品的入射光被準直后投射到光柵的步驟、投射到光柵的光發(fā)生第一次衍射并經(jīng)準直后投射到微鏡陣列的步驟，經(jīng)微鏡陣列調制并反射的光被準直后投射到所述光柵進行第二次衍射步驟，聚焦步驟A第二次衍射的光到檢測器步驟。本發(fā)明可以廣泛應用于物質的近紅外光譜分析領域。