阿達(dá)瑪變換近紅外光譜儀檢測(cè)光的方法及光譜儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200810239143.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN101419164A 公開（公告）日 2009-04-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN101419164A 申請(qǐng)公布日 2009-04-29
分類號(hào) G01N21/45(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張新民 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 譜創(chuàng)（上海）儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京海虹嘉誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京華夏科創(chuàng)儀器技術(shù)有限公司;譜創(chuàng)（上海）儀器有限公司
地址 100085北京市海淀區(qū)上地信息路2號(hào)2座10E
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于光譜分析技術(shù)。為了降低阿達(dá)瑪變換近紅外光譜儀的體積，本發(fā)明提供了一種阿達(dá)瑪變換近紅外光譜儀檢測(cè)光的方法，包括透過樣品的入射光被準(zhǔn)直后投射到光柵的步驟、投射到光柵的光發(fā)生第一次衍射并經(jīng)準(zhǔn)直后投射到微鏡陣列的步驟，經(jīng)微鏡陣列調(diào)制并反射的光被準(zhǔn)直后投射到所述光柵進(jìn)行第二次衍射步驟，聚焦步驟A第二次衍射的光到檢測(cè)器步驟。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于物質(zhì)的近紅外光譜分析領(lǐng)域。