物料盤(pán)的校正方法和校正系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110404545.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113052777A 公開(kāi)（公告）日 2021-06-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN113052777A 申請(qǐng)公布日 2021-06-29
分類(lèi)號(hào) G06T5/00;G06T7/70 分類(lèi) 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 郭祥輝;鄧亞平;楊崢嶸 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 環(huán)旭電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海隆天律師事務(wù)所 代理人 徐莉;鐘宗
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)集成電路產(chǎn)業(yè)區(qū)張東路1558號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，提供一種物料盤(pán)的校正方法和校正系統(tǒng)。所述物料盤(pán)的校正方法包括：在一物料盤(pán)的置物點(diǎn)陣列中，確定若干置物點(diǎn)作為校準(zhǔn)點(diǎn)；分別通過(guò)攝像裝置和測(cè)距裝置，獲得每個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)的平面坐標(biāo)和高度坐標(biāo)，形成校準(zhǔn)點(diǎn)的三維坐標(biāo)集；根據(jù)部分校準(zhǔn)點(diǎn)的平面坐標(biāo)和每個(gè)置物點(diǎn)與置物點(diǎn)陣列的位置關(guān)系，計(jì)算每個(gè)置物點(diǎn)的平面坐標(biāo)；根據(jù)三維坐標(biāo)集和每個(gè)置物點(diǎn)與置物點(diǎn)陣列的位置關(guān)系，通過(guò)貝塞爾曲面計(jì)算每個(gè)置物點(diǎn)的高度坐標(biāo)；以及，獲得置物點(diǎn)陣列的校正后的三維坐標(biāo)集合。本發(fā)明通過(guò)攝像裝置和測(cè)距裝置，結(jié)合貝塞爾曲面擬合原理，實(shí)現(xiàn)物料盤(pán)的三維方向的自動(dòng)校正，提升校正效率，提高校正精度，克服物料盤(pán)的變形彎曲問(wèn)題。