基于視覺的LED芯片質(zhì)量檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910698777.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110490847A 公開（公告）日 2019-11-22
申請公布號 CN110490847A 申請公布日 2019-11-22
分類號 G06T7/00（2017.01）; G06T7/11（2017.01）; G06T7/13（2017.01）; G06T7/136（2017.01）; G06T7/187（2017.01）; G06T3/40（2006.01）; G06T5/30（2006.01） 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 曹衍龍; 陳洪凱; 張琪琦; 劉婷; 孫沛澤 申請（專利權(quán)）人 山東創(chuàng)致智能科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州天昊專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 黃芳
地址 277000 山東省棗莊市高新區(qū)互聯(lián)網(wǎng)小鎮(zhèn)15號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于視覺的LED芯片質(zhì)量檢測方法包括：工業(yè)相機獲取LED芯片圖像，對圖像采取自適應(yīng)閾值化處理，LED芯片圖像基于連通域提取邊緣輪廓點，對邊緣輪廓點進行篩選通過最小二乘法擬合橢圓，對橢圓做逆尺度變換得到放大后的LED橢圓輪廓圖像，截取感興趣區(qū)域圖像，計算不同情況下的分割閾值，分割后的圖像進行膨脹處理，膨脹處理后的圖像進行形態(tài)學(xué)閉運算消除細小孔洞，對孔洞區(qū)域進行連通域標(biāo)記，設(shè)定閾值剔除小于閾值的區(qū)域，檢測燈珠損壞區(qū)域，顯示損壞區(qū)域輪廓，從而檢測LED芯片質(zhì)量。本發(fā)明優(yōu)點在于測試精準(zhǔn)，測試過程中對芯片電極不造成損傷,節(jié)約人工成本，降低產(chǎn)品誤檢率，提高生產(chǎn)效率和企業(yè)利潤。