智慧實(shí)驗(yàn)室的計(jì)量器具量值數(shù)據(jù)分析方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210097525.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114117831A 公開(kāi)(公告)日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114117831A 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) G06F30/20(2020.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張博;夏信;呂英杰;康薇;王守志;宋華旭;張立勇 申請(qǐng)(專利權(quán))人 北京電科智芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 趙靜
地址 100192北京市海淀區(qū)西小口路66號(hào)東升科技園北領(lǐng)地A-3座
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種智慧實(shí)驗(yàn)室的計(jì)量器具量值數(shù)據(jù)分析方法及裝置,方法包括:接收計(jì)量檢定啟動(dòng)控制命令;根據(jù)所述計(jì)量檢定啟動(dòng)控制命令啟動(dòng)計(jì)量檢定,以獲取智慧實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境要素信息和所述智慧實(shí)驗(yàn)室中各計(jì)量器具的檢定過(guò)程數(shù)據(jù);對(duì)所述檢定過(guò)程數(shù)據(jù)進(jìn)行橫向分析,并對(duì)所述環(huán)境要素信息和所述檢定過(guò)程數(shù)據(jù)進(jìn)行縱向分析,生成多維度數(shù)據(jù)分析報(bào)告。該方法可對(duì)智慧實(shí)驗(yàn)室檢定全過(guò)程的環(huán)境要素信息和過(guò)程數(shù)據(jù)進(jìn)行全場(chǎng)景、多維度的數(shù)據(jù)分析,更系統(tǒng)地分析出計(jì)量器具量值偏差,提高計(jì)量器具檢定結(jié)果的可靠性。