一種計量芯片測試裝置的通用接口及其實現(xiàn)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510634072.6 申請日 -
公開（公告）號 CN105182210A 公開（公告）日 2015-12-23
申請公布號 CN105182210A 申請公布日 2015-12-23
分類號 G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 成達(dá);張蓬鶴;薛陽;郜波;趙越;秦程林;石二微;王雅濤;譚琛;陳盛;曹杰明;趙立濤;張世安;米沛紅 申請（專利權(quán)）人 北京電科智芯科技有限公司
代理機構(gòu) 北京安博達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐國文
地址 100192 北京市海淀區(qū)清河小營東路15號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種計量芯片測試裝置的通用接口及其實現(xiàn)方法，所述通用接口包括：微處理器及其外部電路；所述外部電路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO連接口和以太網(wǎng)接口；所述通用接口一端與SPI、UART、IIC、GPIO接口相連接，另一端與對外的總線插座連接；所述以太網(wǎng)接口與所述微處理器的MAC接口相連接。本發(fā)明提供的技術(shù)方案將嵌入式產(chǎn)品中常用的數(shù)字接口統(tǒng)一設(shè)計，使用一組簡單的規(guī)約，實現(xiàn)了通過規(guī)約對多種電氣通訊接口的讀寫控制。