印制電路板缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210119898.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114155367A 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號 CN114155367A 申請公布日 2022-03-08
分類號 G06V10/25（2022.01）I;G06T7/00（2017.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃耀;倪橋 申請（專利權(quán)）人 北京阿丘科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 梁爽
地址 100089北京市海淀區(qū)上地東路1號院1號樓6層601A-02號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于缺陷檢測領(lǐng)域，公開了一種印制電路板缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。該方法包括：獲取待檢測印制電路板的電路板圖像；在所述電路板圖像中繪制若干個待檢測感興趣區(qū)域；從預(yù)設(shè)模型池中選取各待檢測感興趣區(qū)域?qū)?yīng)的檢測模型；根據(jù)所述檢測模型對對應(yīng)的待檢測感興趣區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，獲得缺陷檢測結(jié)果。由于本發(fā)明是從預(yù)設(shè)模型池中選取各待檢測感興趣區(qū)域?qū)?yīng)的檢測模型進(jìn)而對待檢測感興趣區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測。相對于現(xiàn)有的為每一個待檢測感興趣區(qū)域綁定一個模型進(jìn)行檢測的方式，本發(fā)明上述方式能夠在預(yù)設(shè)模型池中對檢測模型統(tǒng)一管理，提高模型的利用效率、降低模型管理復(fù)雜度。