印制電路板缺陷圖像配準(zhǔn)方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210131944.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114170229A | 公開(公告)日 | 2022-03-11 |
申請公布號 | CN114170229A | 申請公布日 | 2022-03-11 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I;G06T7/33(2017.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G06N3/08(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 黃耀;陳天玓 | 申請(專利權(quán))人 | 北京阿丘科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人 | 鄭雪梅 |
地址 | 100089北京市海淀區(qū)上地東路1號院1號樓6層601A-02號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種印制電路板缺陷圖像配準(zhǔn)方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),該方法包括:獲取印制電路板的產(chǎn)品圖片和預(yù)設(shè)模板圖片;將產(chǎn)品圖片中的各非變形關(guān)鍵點與預(yù)設(shè)模板圖片中對應(yīng)的非變形關(guān)鍵點進行匹配,以確定若干非變形配準(zhǔn)位置;將產(chǎn)品圖片中的若干可變形關(guān)鍵點與預(yù)設(shè)模板圖片中對應(yīng)的可變形關(guān)鍵點進行匹配,以確定若干可變形配準(zhǔn)區(qū)域;根據(jù)若干非變形配準(zhǔn)位置和若干可變形配準(zhǔn)區(qū)域?qū)λ霎a(chǎn)品圖片進行圖像變換,獲得印制電路板的缺陷配準(zhǔn)圖像。本發(fā)明通過將非變形關(guān)鍵點和可變形關(guān)鍵點分開匹配,降低了干擾因素的影響,提高了缺陷配準(zhǔn)圖像的準(zhǔn)確度。 |
