缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210123306.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114155244A 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號 CN114155244A 申請公布日 2022-03-08
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃耀;胡中慧 申請（專利權(quán)）人 北京阿丘科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 馮會
地址 100089北京市海淀區(qū)上地東路1號院1號樓6層601A-02號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。該方法包括：獲取無缺陷圖像和目標(biāo)檢測圖像；根據(jù)預(yù)設(shè)缺陷樣本生成模型對所述無缺陷圖像進行缺陷生成，得到仿真缺陷樣本；根據(jù)所述仿真缺陷樣本對所述目標(biāo)檢測圖像進行缺陷檢測，得到缺陷檢測結(jié)果。通過上述方式，根據(jù)預(yù)設(shè)缺陷樣本生成模型和無缺陷圖像進行缺陷生成得到仿真缺陷樣本，通過大量仿真缺陷樣本圖像對缺陷樣本圖像集進行增廣，增大了缺陷樣本數(shù)量，利用數(shù)量增加后的缺陷樣本對目標(biāo)檢測圖像進行檢測識別，提高了小樣本缺陷檢測時的精度。