產品表面缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210126936.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114170227A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114170227A 申請公布日 2022-03-11
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/774（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃耀;陳光斌 申請（專利權）人 北京阿丘科技有限公司
代理機構 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 代理人 熊海武
地址 100089北京市海淀區(qū)上地東路1號院1號樓6層601A-02號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種產品表面缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質，該方法包括：將待檢測產品的產品圖片輸入預設自編碼器模型，以使預設自編碼器模型輸出產品圖片的重構圖片；通過基于高斯核函數(shù)的SSIM算法確定產品圖片的像素點與重構圖片的對應像素點之間的差異信息，并根據(jù)差異信息確定重構圖片的差異得分圖；根據(jù)差異得分圖判斷待檢測產品是否存在表面缺陷。本發(fā)明是通過將待檢測產品的產品圖片輸入預設自編碼器模型獲得重構圖片，通過基于高斯核函數(shù)的SSIM算法確定的產品圖片和重構圖片之間的差異得分圖，根據(jù)差異得分圖判斷待檢測產品是否存在表面缺陷，能夠檢測出產品表面存在的細小缺陷，提高了產品表面缺陷檢測的準確度。