液晶面板缺陷復(fù)判方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010187484.0 申請日 -
公開（公告）號 CN111239143B 公開（公告）日 2021-04-27
申請公布號 CN111239143B 申請公布日 2021-04-27
分類號 G01N21/892;G01N21/01;G02F1/13 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊洋;殷嘉鴻;趙斌 申請（專利權(quán)）人 合肥市商巨智能裝備有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 230012 安徽省合肥市新站區(qū)工業(yè)園內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種液晶面板缺陷復(fù)判方法，該方法主要包括以下步驟：Z軸直線模組帶動(dòng)復(fù)判相機(jī)沿著Z方向移動(dòng)，并采用測距傳感器測量復(fù)判相機(jī)光學(xué)鏡頭與液晶面板上表面的垂直距離，當(dāng)復(fù)判相機(jī)沿著Z方向移動(dòng)到光學(xué)鏡頭與液晶面板上表面的距離等于光學(xué)鏡頭工作距離時(shí)，啟動(dòng)復(fù)判相機(jī)，復(fù)判相機(jī)根據(jù)測距傳感器監(jiān)控的實(shí)時(shí)距離，以△＝5～75μm為步進(jìn)單位進(jìn)行拍照并依次計(jì)數(shù)為A，以缺陷最清晰的圖像的行進(jìn)行程△*A為判斷依據(jù)，與各層級進(jìn)行對比，判斷缺陷的所處的層級。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確計(jì)算出缺陷所在深度位置，有利于判斷缺陷從哪些工序產(chǎn)生的，進(jìn)一步改進(jìn)工序，提高良品率。