剔除點陣式反射標(biāo)簽干擾點方法及機(jī)器人導(dǎo)航方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611144877.3 申請日 -
公開（公告）號 CN106772240B 公開（公告）日 2019-06-11
申請公布號 CN106772240B 申請公布日 2019-06-11
分類號 G01S5/16（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 管俊; 張騰飛 申請（專利權(quán)）人 上海嚴(yán)格企賦科技服務(wù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海翰信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 哈工大機(jī)器人集團(tuán)上海有限公司
地址 201206 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)川橋路399弄4號樓6層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種剔除點陣式反射標(biāo)簽干擾點方法，因為對所有反射光線的點兩兩測距，并將任意兩點均作為對角線，確定坐標(biāo)系，計算一次該兩點作為對角線時，方陣中兩點之間的最小距離，然后統(tǒng)計除了作為對角線的兩點的其余各點在該坐標(biāo)系下的位置坐標(biāo)是最小距離的整數(shù)倍的點的個數(shù)，并標(biāo)記該為兩點的分?jǐn)?shù)，選擇得分最高的兩點作為真實標(biāo)簽中的對角線，確定坐標(biāo)系，然后剔除位置坐標(biāo)不是相對于該組合的最小距離的整數(shù)倍的點，因此，本發(fā)明的剔除點陣式反射標(biāo)簽干擾點方法能夠剔除干擾點，避免因干擾點的影響而使得機(jī)器人坐標(biāo)定位不準(zhǔn)確。