一種測(cè)距方法及測(cè)距系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810118069.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN108286958A 公開(kāi)（公告）日 2018-07-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN108286958A 申請(qǐng)公布日 2018-07-17
分類號(hào) G01C3/32 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 高岱;邵俊臻;郝磊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京優(yōu)爾伯特創(chuàng)新科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京萬(wàn)思博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京優(yōu)爾博特創(chuàng)新科技有限公司
地址 100036 北京市海淀區(qū)復(fù)興路61號(hào)院恒欣商務(wù)大廈C西103-107
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種測(cè)距方法及測(cè)距系統(tǒng)，所述測(cè)距方法包括如下步驟S2：第一激光發(fā)射器發(fā)射第一激光至第一待測(cè)目標(biāo)；S4：成像系統(tǒng)接收所述第一待測(cè)目標(biāo)反射所述第一激光所獲得的第一反射光束，并獲得所述第一反射光束在所述成像系統(tǒng)中形成的第一待測(cè)目標(biāo)圖像，且所述成像系統(tǒng)的軸向與所述第一激光的方向平行；S6：根據(jù)公式計(jì)算所述第一激光發(fā)射器至所述第一待測(cè)目標(biāo)的第一距離。本申請(qǐng)的測(cè)距方法及測(cè)距系統(tǒng)由于只需分析待測(cè)目標(biāo)圖像(即只需分析一張圖像數(shù)據(jù))，因此需要計(jì)算和處理分析的數(shù)據(jù)量很少，占用分析資源較小。進(jìn)而不需要大型的分析設(shè)備，體積小且成本低。