一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910867000.4 申請日 -
公開（公告）號 CN110530912B 公開（公告）日 2022-01-04
申請公布號 CN110530912B 申請公布日 2022-01-04
分類號 G01N23/223（2006.01）I;G16C20/20（2019.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉建紅;胡曉春;林哲瓊 申請（專利權(quán)）人 國家珠寶檢測中心（廣東）有限責任公司
代理機構(gòu) 廣州駿思知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 吳靜芝
地址 200131上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)富特西一路381號湯臣園區(qū)A1樓第6層B部位
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法，其分析的待測物由基體和包覆于基體外的鍍層組成，所述基體的主要成分為貴金屬；包括以下步驟：S1、利用X射線熒光光譜實測待測物基體組成元素的熒光測定強度I3，根據(jù)測得的元素信息設定基體組成元素的初始含量Wn；S2、根據(jù)基體組成元素的初始含量Wn，基于有鍍層測試條件計算基體組成元素的熒光理論強度I4，所述有鍍層測試條件為引入鍍層密度、鍍層厚度和鍍層質(zhì)量來修正鍍層組成元素對基體組成元素的吸收影響；S3、根據(jù)基體組成元素的熒光理論強度I4，采用基本參數(shù)法計算出基體組成元素的實際含量。