一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910867000.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110530912B 公開（公告）日 2022-01-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN110530912B 申請(qǐng)公布日 2022-01-04
分類號(hào) G01N23/223（2006.01）I;G16C20/20（2019.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉建紅;胡曉春;林哲瓊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 國(guó)家珠寶檢測(cè)中心（廣東）有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州駿思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 吳靜芝
地址 200131上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)富特西一路381號(hào)湯臣園區(qū)A1樓第6層B部位
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法，其分析的待測(cè)物由基體和包覆于基體外的鍍層組成，所述基體的主要成分為貴金屬；包括以下步驟：S1、利用X射線熒光光譜實(shí)測(cè)待測(cè)物基體組成元素的熒光測(cè)定強(qiáng)度I3，根據(jù)測(cè)得的元素信息設(shè)定基體組成元素的初始含量Wn；S2、根據(jù)基體組成元素的初始含量Wn，基于有鍍層測(cè)試條件計(jì)算基體組成元素的熒光理論強(qiáng)度I4，所述有鍍層測(cè)試條件為引入鍍層密度、鍍層厚度和鍍層質(zhì)量來修正鍍層組成元素對(duì)基體組成元素的吸收影響；S3、根據(jù)基體組成元素的熒光理論強(qiáng)度I4，采用基本參數(shù)法計(jì)算出基體組成元素的實(shí)際含量。