磁導(dǎo)率測(cè)試治具

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021257971.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN212341426U 公開（公告）日 2021-01-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN212341426U 申請(qǐng)公布日 2021-01-12
分類號(hào) G01R33/12;G01R1/04 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張凱;陳龍;許兵兵;楊樹成;王啟龍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 淮安杰鼎唐科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張偉
地址 223001 江蘇省淮安市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)飛耀北路6號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種磁導(dǎo)率測(cè)試治具，涉及測(cè)量磁變量的裝置或儀器技術(shù)領(lǐng)域，該磁導(dǎo)率測(cè)試治具包括主體框架、送料機(jī)構(gòu)、測(cè)試機(jī)構(gòu)以及打點(diǎn)機(jī)構(gòu)；送料機(jī)構(gòu)包括載料板以及Y向驅(qū)動(dòng)模組；測(cè)試機(jī)構(gòu)包括弱磁計(jì)、第一X向模組以及第一Z向模組，第一X向模組能夠驅(qū)動(dòng)弱磁計(jì)沿X向運(yùn)動(dòng)，且第一Z向模組能夠驅(qū)動(dòng)弱磁計(jì)沿Z向運(yùn)動(dòng)；打點(diǎn)機(jī)構(gòu)包括打點(diǎn)筆、第二X向模組以及第二Z向模組，第二X向模組能夠驅(qū)動(dòng)打點(diǎn)筆沿X向運(yùn)動(dòng)，且第二Z向模組能夠驅(qū)動(dòng)打點(diǎn)筆沿Z向運(yùn)動(dòng)。解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的單臺(tái)治具對(duì)應(yīng)單個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試和打點(diǎn)，測(cè)試和打點(diǎn)效率較低的技術(shù)問題。