一種短波長特征X射線內(nèi)部殘余應(yīng)力無損測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110441350.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113176285A 公開（公告）日 2021-07-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN113176285A 申請(qǐng)公布日 2021-07-27
分類號(hào) G01N23/207（2006.01）I;G01L5/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 鄭林;竇世濤;張倫武;張津;車路長;王成章;周堃;何長光;彭正坤;封先河;陳新 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中國兵器裝備集團(tuán)第五九研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王云曉
地址 400039重慶市九龍坡區(qū)渝州路33號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種短波長特征X射線內(nèi)部殘余應(yīng)力無損測(cè)試方法，X射線源和探測(cè)器分布在樣品的兩側(cè)，光路為透射式，在測(cè)量時(shí)，通過轉(zhuǎn)動(dòng)歐拉環(huán)以改變?chǔ)方?，測(cè)試不同Ψ角下的衍射角2θ，通過擬合衍射角2θ?sinΨ值計(jì)算得到測(cè)試樣品內(nèi)部的殘余應(yīng)力，測(cè)試時(shí)試樣轉(zhuǎn)動(dòng)平面與探測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)平面相互垂直。