一種短波長特征X射線內(nèi)部殘余應力無損測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110441350.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113176285A 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN113176285A 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01N23/207（2006.01）I;G01L5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄭林;竇世濤;張倫武;張津;車路長;王成章;周堃;何長光;彭正坤;封先河;陳新 申請（專利權）人 中國兵器裝備集團第五九研究所有限公司
代理機構 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 王云曉
地址 400039重慶市九龍坡區(qū)渝州路33號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種短波長特征X射線內(nèi)部殘余應力無損測試方法，X射線源和探測器分布在樣品的兩側(cè)，光路為透射式，在測量時，通過轉(zhuǎn)動歐拉環(huán)以改變Ψ角，測試不同Ψ角下的衍射角2θ，通過擬合衍射角2θ?sinΨ值計算得到測試樣品內(nèi)部的殘余應力，測試時試樣轉(zhuǎn)動平面與探測器轉(zhuǎn)動平面相互垂直。