石英晶片檢測(cè)臺(tái)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201120422677.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN202512065U 公開(kāi)（公告）日 2012-10-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN202512065U 申請(qǐng)公布日 2012-10-31
分類(lèi)號(hào) G01N21/88(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 朱正義;王麗英;杜剛;夏金鑫 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 銅陵市三科電子有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 安徽匯樸律師事務(wù)所 代理人 胡敏
地址 244000 安徽省銅陵市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)銅峰工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種石英晶片檢測(cè)臺(tái)，其包括了透明的觀察板設(shè)置于頂部的檢測(cè)臺(tái)基座，觀察板設(shè)有至少一個(gè)石英晶片放置框，且其下方設(shè)有若干均勻布置的發(fā)光裝置于檢測(cè)臺(tái)基座內(nèi)。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于能夠快速地、成批地檢測(cè)石英晶片成品或半成品的質(zhì)量，提高了生產(chǎn)效率。