一種壓控晶振頻率測試系統(tǒng)及方案
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011352732.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112595890A | 公開（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112595890A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-02 |
| 分類號(hào) | G01R23/06(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 唐立 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 成都恒晶科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京和聯(lián)順知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 公茂海 |
| 地址 | 610000四川省成都市武侯區(qū)世紀(jì)城南路599號(hào)天府軟件園7棟2層201號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明一種壓控晶振頻率測試系統(tǒng)，包括測試板本體，測試板本體上分別設(shè)置有待測試壓控晶振頻率、標(biāo)志頻率源，待測試壓控晶振頻率、標(biāo)志頻率源通過鎖相環(huán)進(jìn)行鎖相，鎖相環(huán)輸出符合要求頻率及壓控范圍符合要求的壓控晶振，鎖相環(huán)能正常鎖定，否則不能鎖定，根據(jù)鎖相環(huán)路輸出鎖相結(jié)果，完成壓控晶振測試，測試板上采用多個(gè)鎖相環(huán)，同時(shí)進(jìn)行多路壓控晶振測試，本發(fā)明可以同時(shí)進(jìn)行多路壓控晶振頻率測試，可以提供壓控晶振測試效率，降低測試成本，提高測試效率。?? |
