一種提高溫度補(bǔ)償晶振穩(wěn)定度的測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010430474.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111669126A | 公開(公告)日 | 2020-09-15 |
申請公布號 | CN111669126A | 申請公布日 | 2020-09-15 |
分類號 | H03B5/04(2006.01)I | 分類 | 基本電子電路; |
發(fā)明人 | 羅海杰 | 申請(專利權(quán))人 | 成都恒晶科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京和聯(lián)順知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 吳帥;李素紅 |
地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)世紀(jì)城南路599號天府軟件園7棟2層201號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及晶體振蕩器技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種提高溫度補(bǔ)償晶振穩(wěn)定度的測試方法,包括設(shè)置預(yù)制參考頻率f0接入數(shù)字頻率比較電路;將需要補(bǔ)償?shù)腣CXO的頻率連接數(shù)字頻率比較器;補(bǔ)償VCXO的單片機(jī)通過ADC采集鎖相環(huán)輸出的比較控制電壓和溫度傳感器的溫度值對應(yīng)關(guān)系通過多項(xiàng)式擬合算法運(yùn)算后進(jìn)行存儲;系統(tǒng)形成控制閉環(huán),頻率補(bǔ)償?shù)腣CXO的輸出頻率f將被補(bǔ)償?shù)脚c預(yù)設(shè)參考頻率f0一致;在環(huán)境試驗(yàn)溫箱中循環(huán)步驟S1?S4,單片機(jī)將自動存儲溫度補(bǔ)償電壓值;將溫補(bǔ)VCXO與數(shù)字頻率比較器斷開連接,單片機(jī)采集溫度值,測試輸出頻率?溫度特性曲線;本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了溫度補(bǔ)償VCXO輸出頻率的高穩(wěn)定度,便于批量化的生產(chǎn)測試,測試簡單,效率高而且使用成本低。?? |
