外延結(jié)構(gòu)及半導(dǎo)體器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210206690.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114566538A | 公開(公告)日 | 2022-05-31 |
申請公布號 | CN114566538A | 申請公布日 | 2022-05-31 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 許潔;張杰 | 申請(專利權(quán))人 | 上海陸芯電子科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 201203上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)蔡倫路1690號2幢409室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種外延結(jié)構(gòu)及半導(dǎo)體器件,外延結(jié)構(gòu)包括:鈍化層;勢壘層,勢壘層位于所述鈍化層的一側(cè);其中,所述勢壘層的表面包括至少一個勢壘層凹槽,至少一個勢壘層凹槽位于結(jié)構(gòu)設(shè)定區(qū)域,且所述至少一個勢壘層凹槽的開口朝向鈍化層。勢壘層表面的勢壘層凹槽可以引入更多的電場集中區(qū)域,進(jìn)而削弱在柵極靠近漏極的邊緣處因電場集中效應(yīng)產(chǎn)生的峰值電場的強度,減少柵極邊緣因該峰值電場的作用變?yōu)闀幌葳宸@的熱電子的數(shù)量,進(jìn)而縮短了在半導(dǎo)體器件開關(guān)時陷阱的充放電時間,即縮短了半導(dǎo)體器件開啟和關(guān)斷的時間,提高器件的響應(yīng)速度。 |
