顯示模組及顯示裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110611286.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113296298A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-08-24 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113296298A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-24 |
分類號(hào) | G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1343(2006.01)I | 分類 | 光學(xué); |
發(fā)明人 | 潘仁貴;鄭紅;劉志剛;劉新 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廣州國(guó)顯科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 成亞婷 |
地址 | 511300廣東省廣州市增城區(qū)永寧街香山大道2號(hào)(增城經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)核心區(qū)內(nèi)) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種顯示模組及顯示裝置。顯示模組包括電路板與顯示面板。電路板的邦定區(qū)域設(shè)置有多個(gè)第一測(cè)試電極與多個(gè)第一電極,多個(gè)第一測(cè)試電極與多個(gè)第一電極沿第一方向間隔排列。顯示面板的邦定區(qū)域設(shè)置有多個(gè)第二測(cè)試電極與多個(gè)第二電極,多個(gè)第二測(cè)試電極與多個(gè)第二電極沿第一方向間隔排列。多個(gè)第一測(cè)試電極與多個(gè)第二測(cè)試電極一一對(duì)應(yīng)邦定連接,多個(gè)第一電極與多個(gè)第二電極一一對(duì)應(yīng)邦定連接。其中,至少部分第一測(cè)試電極的長(zhǎng)度與對(duì)應(yīng)邦定連接的第二測(cè)試電極的長(zhǎng)度不相等,可以及時(shí)有效檢測(cè)出電極的任意位置是否存在邦定壓痕不均勻、ACF導(dǎo)電粒子分布不均勻、粒子聚集等問(wèn)題。 |
