一種晶圓級光學元件及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810597451.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN108873119B | 公開(公告)日 | 2022-05-10 |
申請公布號 | CN108873119B | 申請公布日 | 2022-05-10 |
分類號 | G02B3/00(2006.01)I;G02B5/00(2006.01)I | 分類 | 光學; |
發(fā)明人 | 李凡月;雷玫;肖艷芬 | 申請(專利權(quán))人 | 華天慧創(chuàng)科技(西安)有限公司 |
代理機構(gòu) | 西安通大專利代理有限責任公司 | 代理人 | - |
地址 | 710018陜西省西安市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)鳳城五路123號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種晶圓級光學元件,包括至少一個光學元件模塊,所述光學元件模塊包括基板和在基板上形成的若干個光學元件,各光學元件具有透光區(qū)和非透光區(qū),非透光區(qū)包括第一阻光層和第二阻光層,第一阻光層位于基板和光學元件之間,第二阻光層位于不接觸基板的光學元件表面,第二阻光層在基板的豎直投影與第一阻光層相接合或至少部分重疊。利用光刻技術(shù)設(shè)置尺寸精度高的第一阻光層,避免了現(xiàn)有技術(shù)中阻光層大面積覆蓋基板,克服了阻光層與助黏劑大面積接觸而導致的結(jié)合力差的缺點,提高了晶圓級光學元件的可靠性;同時,由于第二阻光層的制備方法對尺寸的精度要求低,使得整個光學元件對非透光區(qū)尺寸精度要求容差變大。 |
