一種成品芯片測試用高壓加速老化試驗機(jī)及其使用方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910738753.5 申請日 -
公開（公告）號 CN110320465B 公開（公告）日 2021-05-18
申請公布號 CN110320465B 申請公布日 2021-05-18
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黃曉波 申請（專利權(quán)）人 安徽龍芯微科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京和信華成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 胡劍輝
地址 243000 安徽省馬鞍山市鄭蒲港新區(qū)蒲建標(biāo)準(zhǔn)化廠房3#
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種成品芯片測試用高壓加速老化試驗機(jī)及其使用方法，該試驗機(jī)包括上機(jī)體，所述上機(jī)體的前表面活動安裝有壓力門，所述壓力門的后表面固定安裝有兩個豎直方向放置的密封圈，所述上機(jī)體的上表面中部固定安裝有壓力閥，所述上機(jī)體的底端內(nèi)壁固定安裝有支撐架，所述支撐架的上端固定安裝有柱體形狀的壓力箱，所述壓力箱的圓弧側(cè)面與密封圈一一對應(yīng)的位置開設(shè)有圓孔，所述壓力箱的圓弧內(nèi)壁與圓孔相對齊的位置固定安裝有夾持機(jī)構(gòu)。本發(fā)明中，通過設(shè)置的夾持機(jī)構(gòu)，方便操作人員夾持待測試的芯片，可根據(jù)芯片的大小來調(diào)節(jié)夾持機(jī)構(gòu)的夾持寬度，通過設(shè)置的壓力閥，能夠精準(zhǔn)控制氣壓的排放，提高操作過程中的安全性。