一種集成電路測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122587197.1 申請日 -
公開（公告）號 CN216117909U 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN216117909U 申請公布日 2022-03-22
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳益群;徐剛;袁泉;王澤山 申請（專利權(quán)）人 寧波群芯微電子股份有限公司
代理機構(gòu) 深圳市宏德雨知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李捷
地址 315336浙江省寧波市杭州灣新區(qū)玉海東路68號23#、24#廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種集成電路測試設(shè)備，涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域。本實用新型包括底座、調(diào)節(jié)機構(gòu)和放置平臺，放置平臺位于底座的頂部固定連接，調(diào)節(jié)機構(gòu)位于放置平臺的一側(cè)且與底座固定連接，調(diào)節(jié)機構(gòu)包括手柄和調(diào)節(jié)單元，手柄的底部活動連接調(diào)節(jié)單元，調(diào)節(jié)單元包括齒輪和兩個齒條，兩個齒條分別位于齒輪的兩側(cè)嚙合。本實用新型通過調(diào)節(jié)兩個齒條相背端之間的距離，從而適應(yīng)測試點，向下壓手柄使套筒跟隨其下降，可進行測試多個集成電路，解決了手動改變兩引腳的距離，較為麻煩的問題；通過將橡膠塊固定在頂板上，防止在測試過程中電路板滑動，解決了直接放置在桌面容易造成電路板磨損的問題。