顯卡驅(qū)動校驗方法、裝置、終端和介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010752108.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111930595B | 公開(公告)日 | 2022-03-15 |
申請公布號 | CN111930595B | 申請公布日 | 2022-03-15 |
分類號 | G06F11/30(2006.01)I;G06F11/07(2006.01)I;G06F13/10(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 單晉奎 | 申請(專利權)人 | 長沙景嘉微電子股份有限公司 |
代理機構 | 北京新知遠方知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 馬軍芳;張艷 |
地址 | 410221湖南省長沙市岳麓區(qū)梅溪湖路1號長沙景嘉微電子股份有限公司 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請實施例提供一種顯卡驅(qū)動校驗方法、裝置、終端和介質(zhì),涉及計算機技術,用于克服相關技術中顯卡的核內(nèi)驅(qū)動或核外驅(qū)動極易被偽造或篡改的問題。所述方法,包括:在顯卡核內(nèi)驅(qū)動中讀取顯卡的硬件信息正確,且在所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動與讀取顯卡固件信息匹配時,創(chuàng)建所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動與顯卡核外驅(qū)動的握手通道;在所述顯卡核外驅(qū)動根據(jù)所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動發(fā)送的檢驗數(shù)據(jù)及預設的檢驗公式確定的檢驗結(jié)果錯誤時,且在確定所述顯卡核外驅(qū)動返回檢驗結(jié)果超時次數(shù)超過設定次數(shù)時,關閉所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動與顯卡核外驅(qū)動的握手通道,確定所述顯卡核外驅(qū)動異常,控制所述顯卡驅(qū)動結(jié)束運行。 |
