一種專用標(biāo)定尺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022909288.8 申請日 -
公開（公告）號 CN213748177U 公開（公告）日 2021-07-20
申請公布號 CN213748177U 申請公布日 2021-07-20
分類號 G01B5/02;G01B11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張全旭;彭波;陳衛(wèi)紅;龍保佳 申請（專利權(quán)）人 北京智博聯(lián)科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京融智邦達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 吳強
地址 100088 北京市西城區(qū)德勝門外大街11號1幢301室（德勝園區(qū)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種專用標(biāo)定尺，專用標(biāo)定尺包括水平尺和與所述水平尺垂直的豎直尺，水平尺、豎直尺形成的平面設(shè)為標(biāo)定平面，還設(shè)置有底座，底座上設(shè)置有可以調(diào)節(jié)所述水平尺水平的水平調(diào)節(jié)部件，水平尺和豎直尺固定在所述底座上。本實用新型使用該專用標(biāo)定尺即可對測試對象的各目標(biāo)點單獨標(biāo)定，得到各目標(biāo)點的標(biāo)定參數(shù)；從而通過采集圖像進(jìn)行分析即可得到各目標(biāo)點的像素位移和實際位移。本實用新型的專用標(biāo)定尺既可以通過水平尺和豎直尺標(biāo)定目標(biāo)點所在平面，又可以根據(jù)水平尺和豎直尺上的刻度得到目標(biāo)點所在平面的已知線段從而進(jìn)行標(biāo)定，通過底座可以將標(biāo)定尺放置在目標(biāo)點上，解決了現(xiàn)有技術(shù)中不能對目標(biāo)點進(jìn)行單獨標(biāo)定的難題。