一種用于多目標(biāo)數(shù)字圖像檢測的專用標(biāo)定尺及方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011415383.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112378313A | 公開（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申請公布號 | CN112378313A | 申請公布日 | 2021-02-19 |
| 分類號 | G01B5/02(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 彭波;張全旭;陳衛(wèi)紅;龍保佳;李得睿;晏班夫 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京智博聯(lián)科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京融智邦達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 吳強(qiáng) |
| 地址 | 100088北京市西城區(qū)德勝門外大街11號1幢301室（德勝園區(qū)） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種用于多目標(biāo)數(shù)字圖像檢測的專用標(biāo)定尺及方法，專用標(biāo)定尺包括水平尺和與所述水平尺垂直的豎直尺，水平尺、豎直尺形成的平面設(shè)為標(biāo)定平面，還設(shè)置有底座，水平尺和豎直尺固定在所述底座上。然后使用專用標(biāo)定尺對測試對象的各目標(biāo)點(diǎn)單獨(dú)標(biāo)定，得到各目標(biāo)點(diǎn)的標(biāo)定參數(shù)；采集圖像進(jìn)行分析即可得到各目標(biāo)點(diǎn)的像素位移和實(shí)際位移。本發(fā)明通過使用專用標(biāo)定尺來對測試對象的每個目標(biāo)點(diǎn)所在平面進(jìn)行單獨(dú)標(biāo)定，得到每個目標(biāo)點(diǎn)所在平面的標(biāo)定參數(shù)，從而使用同一臺圖像采集儀按照一定的時間間隔采集圖像進(jìn)行分析，得到各采集時刻的目標(biāo)點(diǎn)的像素位移，節(jié)省了圖像采集儀的數(shù)量。?? |
