一種散熱性芯片檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021787549.7 申請日 -
公開（公告）號 CN213275858U 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN213275858U 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01R31/26(2014.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 劉增紅 申請（專利權(quán)）人 鎮(zhèn)江矽佳測試技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 212001江蘇省鎮(zhèn)江市高新區(qū)南徐大道298號A座高新大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種散熱性芯片檢測設(shè)備，包括工作臺，所述工作臺的上壁面安裝有定位結(jié)構(gòu)，所述定位結(jié)構(gòu)的上壁面安裝有夾緊結(jié)構(gòu)，所述工作臺的上壁面安裝有支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)的下壁面安裝有檢測結(jié)構(gòu)，所述定位結(jié)構(gòu)包括：定位板、四個定位塊、主板、芯片、充電座以及充電頭；本實用新型涉及芯片檢測技術(shù)領(lǐng)域，本實用新型中，在定位板上安裝充電裝置，通過更換定位板實現(xiàn)提前讓芯片工作，以便于在上一塊芯片檢測后可以直接檢測這一塊芯片，解決了現(xiàn)有的散熱性芯片檢測設(shè)備浪費檢測時間，降低檢測效率的問題。??