一種用于芯片檢測的吸附臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021868138.0 申請日 -
公開（公告）號 CN213275863U 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN213275863U 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 常浩 申請（專利權）人 鎮(zhèn)江矽佳測試技術有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 212001江蘇省鎮(zhèn)江市高新區(qū)南徐大道298號A座高新大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種用于芯片檢測的吸附臺，包括底座，所述底座的頂部設有對稱設置的兩個滑槽，所述滑槽內轉動連接有螺桿，所述螺桿的一端貫穿滑槽的內壁并固定連接有旋鈕，所述旋鈕的一端滑動插設有卡桿，所述底座的外壁上環(huán)繞設有與卡桿對應的多個卡槽，所述螺桿上螺紋套接有滑塊，所述滑槽內固定連接有滑桿，所述滑塊上設有與滑桿對應的滑口，所述滑塊的頂部固定連接有放置板，所述放置板上設有多個吸附口。本實用新型中通過調節(jié)機構的設置，使吸附機構可以進行自由調節(jié)，從而提出了芯片的檢測效率。??