一種集成電路測試用多功能測試臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021758402.5 申請日 -
公開（公告）號 CN213275856U 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN213275856U 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 劉增紅 申請（專利權(quán)）人 鎮(zhèn)江矽佳測試技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 212001江蘇省鎮(zhèn)江市高新區(qū)南徐大道298號A座高新大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種集成電路測試用多功能測試臺，包括底座，所述底座上設(shè)有收縮測試結(jié)構(gòu)；所述收縮測試結(jié)構(gòu)包括：收縮箱體、剪叉升降臺、四個滑軌、測試箱體、測試組件、箱體蓋、鉸座以及支撐腿，本實用新型涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，本案采用的收縮測試結(jié)構(gòu)，通過內(nèi)置的剪叉升降臺可實現(xiàn)對測試箱體的高度調(diào)節(jié)的目的，且在不進行測試時，還具有收納功能，減少占用空間，通過內(nèi)置的測試組件，可將測試板以及測試插孔收納進測試箱體內(nèi)，在不使用時可有效地保護測試插孔不受到破壞，從而有效的解決了現(xiàn)有的測試臺不具有高度調(diào)節(jié)功能，對于身高不同的測試人員來說，使用也不方便，影響使用效率的技術(shù)問題。??