一種半導(dǎo)體晶片探針測(cè)試設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202021751083.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN213275855U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN213275855U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-25 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/26(2014.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I | 分類(lèi) | - |
| 發(fā)明人 | 常浩 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 鎮(zhèn)江矽佳測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 212001江蘇省鎮(zhèn)江市高新區(qū)南徐大道298號(hào)A座高新大廈 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種半導(dǎo)體晶片探針測(cè)試設(shè)備，包括底座，所述底座上端安裝有升降結(jié)構(gòu),所述底座上端安裝有夾緊檢測(cè)結(jié)構(gòu)；其中，升降結(jié)構(gòu)包含有：動(dòng)力室、液壓泵、液壓桿、輔助滑道、第一滑塊、升降臺(tái)、電動(dòng)滑道、第二滑塊、電動(dòng)推桿以及探針，本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，本案的有益效果為：解決了現(xiàn)有設(shè)備中由于產(chǎn)品的待測(cè)試點(diǎn)距離測(cè)試設(shè)備的高度不一，所以要準(zhǔn)備不同長(zhǎng)度的探針以滿(mǎn)足不同的測(cè)試要求，并且放置板的高度固定，不能根據(jù)需求進(jìn)行調(diào)整，適應(yīng)能力較差；而且在測(cè)試過(guò)程中需要進(jìn)行固定，人工固定比較麻煩，會(huì)帶來(lái)較大的不便，而且過(guò)程比較繁瑣，具有不利于長(zhǎng)期的高效的進(jìn)行使用等問(wèn)題。?? |
