一種半導體晶片探針測試設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021751083.5 申請日 -
公開（公告）號 CN213275855U 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN213275855U 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01R31/26(2014.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 常浩 申請（專利權）人 鎮(zhèn)江矽佳測試技術有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 212001江蘇省鎮(zhèn)江市高新區(qū)南徐大道298號A座高新大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種半導體晶片探針測試設備，包括底座，所述底座上端安裝有升降結構,所述底座上端安裝有夾緊檢測結構；其中，升降結構包含有：動力室、液壓泵、液壓桿、輔助滑道、第一滑塊、升降臺、電動滑道、第二滑塊、電動推桿以及探針，本實用新型涉及半導體檢測技術領域，本案的有益效果為：解決了現(xiàn)有設備中由于產品的待測試點距離測試設備的高度不一，所以要準備不同長度的探針以滿足不同的測試要求，并且放置板的高度固定，不能根據(jù)需求進行調整，適應能力較差；而且在測試過程中需要進行固定，人工固定比較麻煩，會帶來較大的不便，而且過程比較繁瑣，具有不利于長期的高效的進行使用等問題。??