測試分選機（TSM-2）

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202230030458.7 申請日 -
公開（公告）號 CN307384959S 公開（公告）日 2022-06-03
申請公布號 CN307384959S 申請公布日 2022-06-03
分類號 15-99 （13） 分類 -
發(fā)明人 詹登星;李建華;劉永興 申請（專利權(quán)）人 東莞市安動半導體科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市蘭鋒盛世知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 523000廣東省東莞市寮步鎮(zhèn)向西東區(qū)路17號2棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設計產(chǎn)品的名稱：測試分選機（TSM?2）。2.本外觀設計產(chǎn)品的用途：用于芯片/IC制造行業(yè)后端的測試，及測試后OK/NG分類作用功能的設備外形。3.本外觀設計產(chǎn)品的設計要點：在于形狀。4.最能表明設計要點的圖片或照片：立體圖。